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投稿时间：2006-12-29
投稿时间：2006-12-29
中文摘要: 针对在使用RAM保存数据由掉电带来的数据丢失问题,提出了一种利用非易失性存储器存储测试仪器参数和重要数据的方法.由于存储器的存储量大、接口简单、更换存储芯片方便,实现了数据备份和接口扩展的功能.
Abstract:A method of storing parameters and importance data using nonvolatile memory in test instrument to avoid lose in RAM caused by power-down are proposed.This nonvolatile memory has the advantage of large storage, simple interface and easy changing, which can realize the function of data backup and expansion of interface.
keywords: nonvolatile memory storage test instrument
文章编号：20070120 中图分类号： 文献标志码：
基金项目:上海电力学院大学生科技创新基金(K2006-246)
| 作者 | 单位 |
| 陈乃超 | 1. 上海电力学院 能源与环境工程学院, 上海 200090 |
| 黄锦杰 | 1. 上海电力学院 能源与环境工程学院, 上海 200090 |
| 刘言 | 1. 上海电力学院 能源与环境工程学院, 上海 200090 |
| 梁磊 | 1. 上海电力学院 能源与环境工程学院, 上海 200090 |
引用文本：
陈乃超,黄锦杰,刘言,等.非易失性存储器在测试仪器中的应用[J].上海电力大学学报,2007,23(1):75-78.
CHEN Nai-chao,HUANG Jin-jie,LIU Yan,et al.Nonvolatile Memory Application in Test Instrument[J].Journal of Shanghai University of Electric Power,2007,23(1):75-78.
陈乃超,黄锦杰,刘言,等.非易失性存储器在测试仪器中的应用[J].上海电力大学学报,2007,23(1):75-78.
CHEN Nai-chao,HUANG Jin-jie,LIU Yan,et al.Nonvolatile Memory Application in Test Instrument[J].Journal of Shanghai University of Electric Power,2007,23(1):75-78.